发明名称 3D结构半导体应用之利用图案化自组装单层的选择性原子层沉积制程;SELECTIVE ATOMIC LAYER DEPOSITION PROCESS UTILIZING PATTERNED SELF ASSEMBLED MONOLAYERS FOR 3D STRUCTURE SEMICONDUCTOR APPLICATIONS
摘要 兹提供利用选择性沉积制程形成鳍片结构的方法,且预定材料形成在鳍片结构的不同位置,用以三维(3D)堆叠半导体晶片用鳍式场效电晶体(FinFET)。在一实施例中,形成具预定材料的结构至基板上的方法包括形成图案化自组装单层至形成于基板上的结构周边,其中图案化自组装单层包括处理层形成在自组装单层之中,及进行原子层沉积制程,以主要在图案化自组装单层的自组装单层上形成材料层。
申请公布号 TW201539558 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW104106868 申请日期 2015.03.04
申请人 应用材料股份有限公司 APPLIED MATERIALS, INC. 发明人 奈马尼史林尼法斯D NEMANI, SRINIVAS D.;叶怡利 YIEH, ELLIE Y.;葛迪鲁多维 GODET, LUDOVIC;范寅 FAN, YIN
分类号 H01L21/28(2006.01);C23C16/455(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财李世章
主权项
地址 美国 US