发明名称 二维自对准之电晶体接触;TRANSISTOR CONTACTS SELF-ALIGNED IN TWO DIMENSIONS
摘要 本发明之具体实施例提供改良型半导体结构及制造方法,其提供二维自对准之电晶体接触。使用的是两个各由不同材料构成的不同覆盖层。这两个覆盖层互为可选择性蚀刻。一覆盖层系用于闸极覆盖,而另一覆盖层系用于源极/汲极覆盖。选择性蚀刻程序使所需的闸极和源极/汲极敞开,而阻隔遮罩则系用于覆盖并非连接架构任何部分的元件。金属化线件(层件)经沉积而与敞开之元件接触,以在两者之间提供电连接性。
申请公布号 TW201539654 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103130078 申请日期 2014.09.01
申请人 格罗方德半导体公司 GLOBALFOUNDRIES US INC. 发明人 韦 奇宏 安迪 WEI, CHIH-HUNG ANDY;伯奇 古拉梅 BOUCHE, GUILLAUME;扎列斯基 马克A ZALESKI, MARK A.;尼欧 特尼 古哈 NEOGI, TUHIN GUHA;史蒂芬斯 杰森E STEPHENS, JASON E.;桂 宗郁 KYE, JONGWOOK;奈恩 吉 ZENG, JIA
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L23/52(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄陈昭诚
主权项
地址 美国 US