发明名称 |
记忆体测试系统及方法;MEMORY TEST SYSTEM AND METHOD |
摘要 |
本发明实施例提出一种记忆体测试系统,所述记忆体测试系统包含记忆体装置、探针卡与测试器。记忆体装置包含具有多个记忆库的记忆体晶片、数个输入电路与数个输出电路,其中每个输入电路皆具有第一输入接脚与第二输入接脚。输入电路的多个第一输入接脚用以读取多个记忆库之多个记忆单元中储存的多笔资料,而多个第二输入接脚用以接收一个压缩结果讯号。多个输出电路接收由多个输入电路发出的多个压缩讯号,而探针卡混合由多个输出电路输出之多个压缩输出讯号,以输出一个混合压缩输出讯号至测试器。 |
申请公布号 |
TW201539468 |
申请公布日期 |
2015.10.16 |
申请号 |
TW103112654 |
申请日期 |
2014.04.03 |
申请人 |
晶豪科技股份有限公司 ELITE SEMICONDUCTOR MEMORY TECHNOLOGY INC. |
发明人 |
周敏忠 CHOU, MIN CHUNG |
分类号 |
G11C29/56(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区工业东四路23号 TW |