发明名称 碳化矽渠沟电晶体及其制造方法;SIC-TRENCH-TRANSISTOR AND PROCESS FOR ITS PRODUCTION
摘要 一种碳化矽渠沟电晶体(1),包含第一端子(2)、沿竖向设于闸渠沟(3)与第二端子(5)之间的磊晶层(4),其中在该磊晶层(4)中设有水平延伸的补偿层(6),该补偿层具有类型与该磊晶层(4)的掺杂相反的有效掺杂。此外还关于一种制造碳化矽渠沟电晶体(1)的方法,其中在该碳化矽渠沟电晶体(1)的第二端子(5)上设置磊晶层(4);在该磊晶层(4)中植入水平延伸的补偿层(6),该补偿层具有类型与该磊晶层(4)的掺杂相反的有效掺杂;以及在该补偿层(6)上方设置第一端子(2)及闸渠沟(3)。
申请公布号 TW201539581 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW104101057 申请日期 2015.01.13
申请人 罗伯特博斯奇股份有限公司 ROBERT BOSCH GMBH 发明人 蓝姆巴赫 马汀 RAMBACH, MARTIN;葛里伯 米歇尔 GRIEB, MICHAEL;贾克 汤玛斯 JACKE, THOMAS;库 宁 QU, NING
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/161(2006.01);H01L29/36(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 德国 DE
您可能感兴趣的专利