发明名称 具有倾斜底部电极之电阻式记忆体单元;RESISTIVE MEMORY CELL WITH SLOPED BOTTOM ELECTRODE
摘要 本发明揭示一种形成一电阻式记忆体单元(例如一导电桥接随机存取记忆体(CBRAM)或电阻式随机存取记忆体(ReRAM)单元)之方法,其可包含:形成复数个底部电极连接件;将一底部电极层沈积于该等底部电极连接件上;执行一蚀刻以移除该底部电极层之部分,以使至少一指向上底部电极区域形成于该等底部电极连接件上方,各指向上底部电极区域界定一底部电极尖端;及使一电解质区域及一顶部电极形成于各底部电极尖端上,使得该电解质区域配置于该顶部电极与该各自底部电极尖端之间。
申请公布号 TW201539452 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW104105927 申请日期 2015.02.24
申请人 微晶片科技公司 MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED 发明人 沃尔斯 詹姆士 WALLS, JAMES;菲思特 保罗 FEST, PAUL
分类号 G11C13/00(2006.01) 主分类号 G11C13/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国 US