发明名称 |
具有倾斜底部电极之电阻式记忆体单元;RESISTIVE MEMORY CELL WITH SLOPED BOTTOM ELECTRODE |
摘要 |
本发明揭示一种形成一电阻式记忆体单元(例如一导电桥接随机存取记忆体(CBRAM)或电阻式随机存取记忆体(ReRAM)单元)之方法,其可包含:形成复数个底部电极连接件;将一底部电极层沈积于该等底部电极连接件上;执行一蚀刻以移除该底部电极层之部分,以使至少一指向上底部电极区域形成于该等底部电极连接件上方,各指向上底部电极区域界定一底部电极尖端;及使一电解质区域及一顶部电极形成于各底部电极尖端上,使得该电解质区域配置于该顶部电极与该各自底部电极尖端之间。 |
申请公布号 |
TW201539452 |
申请公布日期 |
2015.10.16 |
申请号 |
TW104105927 |
申请日期 |
2015.02.24 |
申请人 |
微晶片科技公司 MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED |
发明人 |
沃尔斯 詹姆士 WALLS, JAMES;菲思特 保罗 FEST, PAUL |
分类号 |
G11C13/00(2006.01) |
主分类号 |
G11C13/00(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
美国 US |