发明名称 Prüfgerät und Verfahren zum Prüfen eines Schalters
摘要 Ein Prüfgerät (1) zum Prüfen eines Schalters (4) umfasst eine Messeinrichtung (6) und eine Steuereinheit (7). Der Schalter (4) weist mindestens eine Auslösespule (2) zum Auslösen eines Schaltvorgangs auf. Die Steuereinheit ist ausgestaltet, um nacheinander ein Prüfsignal (U1; U2) mit einer ersten Polarität und einer entgegengesetzten zweiten Polarität an den Schalter (4) anzulegen, um mit der Messeinrichtung (6) jeweils eine Messgröße (I1; I2) des Schalters (4) abhängig von dem jeweiligen Prüfsignal (U1; U2) zu erfassen und um durch einen Vergleich auf Basis der Messgrößen (I1, I2) festzustellen, ob eine Freilaufdiode (3) an die mindestens eine Auslösespule (2) angeschlossen ist.
申请公布号 AT515592(A1) 申请公布日期 2015.10.15
申请号 AT20140050255 申请日期 2014.04.04
申请人 OMICRON ELECTRONICS GMBH 发明人
分类号 G01R31/327 主分类号 G01R31/327
代理机构 代理人
主权项
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