发明名称 |
记忆单元及其制造方法 |
摘要 |
本发明是有关于一种记忆单元及其制造方法,所述记忆单元包括第一导体层、穿隧介电层、阶梯状氧化层以及第一介电层。第一导体层位于基底上,其侧壁呈阶梯状。穿隧介电层位于第一导体层与基底之间。阶梯状氧化层覆盖于第一导体层的表面与侧壁上。第一介电层覆盖阶梯状氧化层。 |
申请公布号 |
CN104979361A |
申请公布日期 |
2015.10.14 |
申请号 |
CN201510136298.3 |
申请日期 |
2015.03.26 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
马处铭 |
分类号 |
H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/115(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种记忆单元的制造方法,其特征在于其包括以下步骤:在一基底上形成一穿隧介电层与一第一导体层;在所述穿隧介电层与所述第一导体层的两侧分别形成一沟渠;在所述沟渠中分别形成一绝缘层,所述绝缘层的表面低于所述第一导体层的表面,裸露出所述第一导体层的一第一侧壁;进行一第一氧化工艺,以在所述第一导体层的表面与所述第一侧壁上形成一第一氧化层;移除所述第一氧化层并移除部分所述绝缘层,以裸露出所述第一导体层的一第二侧壁,所述第二侧壁呈阶梯状;进行一第二氧化工艺,以在所述第一导体层的表面与所述第二侧壁形成一第二氧化层;以及在所述第二氧化层以及所述绝缘层上形成一第一介电层。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |