发明名称 | 半导体晶圆 | ||
摘要 | 本发明提供将多品种拼版的半导体晶圆,并且提供能够容易识别相同芯片尺寸的不同品种的半导体晶圆。在半导体晶圆的外周形成有除外区域(7),其内侧被区分为品种不同的区域(A、B、C、D)。半导体芯片区域(A、B、C、D)以边界(22、23、24)分开,在边界(21、22、23、24)的两端附近配置有标记芯片(1、2、3、4)。 | ||
申请公布号 | CN104979331A | 申请公布日期 | 2015.10.14 |
申请号 | CN201510150748.4 | 申请日期 | 2015.04.01 |
申请人 | 精工电子有限公司 | 发明人 | 松本康伸;铃木正树;麻生诚;森田宏 |
分类号 | H01L23/544(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/544(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 何欣亭;姜甜 |
主权项 | 一种半导体晶圆,形成有设于外周的除外区域,在所述除外区域的内侧分别形成不同品种的多个半导体芯片区域,所述半导体晶圆的特征在于,包括:半导体芯片,分别配置在所述多个半导体芯片区域并具有同一尺寸;基点芯片,以定位边侧为上,在所述多个半导体芯片区域各个的上端与所述除外区域相接,并且具有与所述半导体芯片相同的尺寸;以及标记芯片,与所述基点芯片的除外区域侧邻接,具有将所述半导体芯片横着排列多个的尺寸。 | ||
地址 | 日本千叶县千叶市 |