| 发明名称 | 晶片外观挑选台 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开并提供了一种有效提高晶片缺陷挑选的速度和成功率，同时也能有效控制生产成本的晶片外观挑选台。本实用新型包括箱体（1）以及设置在所述箱体（1）顶端的工作台面，所述箱体（1）内还设置有发光体（2），所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体（2）的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。本实用新型适用于石英晶片质检领域。 | ||
| 申请公布号 | CN204705593U | 申请公布日期 | 2015.10.14 |
| 申请号 | CN201520293867.0 | 申请日期 | 2015.05.08 |
| 申请人 | 珠海东锦石英科技有限公司 | 发明人 | 刘兴波 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人 | 王贤义 |
| 主权项 | 一种晶片外观挑选台，其特征在于：所述晶片外观挑选台包括箱体（1）以及设置在所述箱体（1）顶端的工作台面，所述箱体（1）内还设置有发光体（2），所述工作台面中部设置有透光区，所述透光区上放置有待测晶片，所述发光体（2）的光源透过所述透光区射向所述待测晶片。 | ||
| 地址 | 519060 广东省珠海市珠海大道东段南屏科技工业园绿园路3号 | ||