发明名称 一种二极管芯片的制备方法
摘要 本发明公开了一种二极管芯片的制备方法,尤其属于快恢复二极管芯片的制备方法。包括N+层和P+层,采用如下步骤进行A)在 N+型衬底硅片正面生长至少一层用于电流漂移的N型层;B)、在N型层表面生长一层二氧化硅;C)、在二氧化硅上涂覆光刻胶;D)、在光刻胶上光刻出分压环窗口和主结窗口,腐蚀沟槽;E)、D)步骤后采用离子注入法,生成P+层和P-层,形成以P+层为主结,至少一个分压环P-层为副结的闭合环;F)对腐蚀后沟槽涂覆玻璃钝化层;G)、在N+层和P+层表面均溅射镀镍合金层。采用本发明的技术方案,具有正、反向恢复时间短,抗反向击穿电压高的优点。
申请公布号 CN102983077B 申请公布日期 2015.10.14
申请号 CN201210518664.8 申请日期 2012.12.06
申请人 乐山嘉洋科技发展有限公司 发明人 邓华鲜
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人 毛光军
主权项 一种二极管芯片的制备方法, 包括N+层(1)和P+层(2),其特征在于,采用如下步骤进行:A)、在 N+(1)型衬底硅片正面生长至少一层用于电流漂移的N型层(3);B)、在N型层表面生长一层二氧化硅;C)、在二氧化硅层上涂覆光刻胶;所述涂覆光刻胶,采用动态喷洒工艺涂覆;D)、在光刻胶上光刻出分压环窗口和主结窗口,腐蚀沟槽;E)、上述D)步骤后,采用离子注入法,生成P+层(2)和P‑层(4),形成以P+层为主结,至少一个分压环P‑层(4)为副结的闭合环;F)对腐蚀后沟槽涂覆玻璃钝化层(5);G)在N+层(1)和P+层(2)表面均溅射镀镍合金层(6)。
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