| 发明名称 | 测试半导体存储器的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种测试半导体存储器的方法。所述方法包括步骤：根据对应于第一代的多个用例执行测试并且针对所述多个用例产生模型化测试结果；基于模型化测试结果从所述多个用例当中确定最优用例；以及基于所述最优用例产生对应于第二代的多个用例。 | ||
| 申请公布号 | CN104979018A | 申请公布日期 | 2015.10.14 |
| 申请号 | CN201510154675.6 | 申请日期 | 2015.04.02 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴世殷;尹圣熙 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 张帆;陈源 |
| 主权项 | 一种测试半导体存储器的方法，所述方法包括步骤：根据与第一代对应的多个用例对半导体存储器执行测试并且针对所述多个用例产生模型化测试结果；基于模型化测试结果从所述多个用例当中确定最优用例；以及基于所述最优用例产生与第二代对应的多个用例。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||