集成电路IC测试装置及测试方法

摘要

本发明是一种集成电路IC测试装置及测试方法。本发明提供一种可控制多个集成电路IC测试的集成电路IC测试装置。该集成电路IC测试装置包括测试被测试设备的集成电路IC测试模块、生成控制集成电路IC测试模块的上位机信号的测试控制模块、从测试控制模块接收上位机信号并发送到集成电路IC测试模块的传输接口；集成电路IC测试模块具有：对应上位机系统1的上位机信号而工作的第1集成电路IC测试模块、对应在所述上位机系统1的上位机信号上追加扩展区域的上位机系统2的上位机信号而工作的第2集成电路IC测试模块。

主权项

一种集成电路IC测试装置，其特征在于，包括：测试所述被测试设备的集成电路IC测试模块；_{生成控制所述集成电路IC测试模块的上位机信号的测试控制模块；从所述测试控制模块接收所述上位机信号并发送到所述集成电路IC测试模块的传输接口；所述集成电路IC测试模块具有：对应上位机系统1的上位机信号而工作的第1集成电路IC测试模块、对应在所述上位机系统1的上位机信号上追加扩展区域的上位机系统2的上位机信号而工作的第2集成电路IC测试模块；所述测试控制模块将所述上位机系统2的上位机信号发送到所述传输接口；所述传输接口，将从由所述测试控制模块接收的所述上位机系统2的上位机信号除去所述扩展区域的模块分后发送给所述第1集成电路IC测试模块；将从所述测试控制模块接收的所述上位机系统2的上位机信号发送给所述第2集成电路IC测试模块。}