发明名称 提高PLC光波导性能的晶圆加工方法
摘要 一种提高PLC光波导性能的晶圆加工方法,包括以下制备步骤:在硅晶圆材料上生长沉积二氧化硅衬底层后,或是直接以石英玻璃或耐热的光学玻璃材料制得的晶圆为衬底层,通过光刻和干蚀工艺将波导芯的图案刻蚀在衬底层中形成凹槽;而后再在衬底层上沉积波导芯层;将衬底层上面波导芯层材料去掉,使得衬底层嵌有波导芯,再沉积覆盖层。本发明在降低波导的内应力(残余应力)的同时,简化了加工工艺,不增加成本,降低获得高性能PLC波导的晶圆加工难度。
申请公布号 CN104977655A 申请公布日期 2015.10.14
申请号 CN201510340673.6 申请日期 2015.06.18
申请人 湖南晶图科技有限公司 发明人 杨志援
分类号 G02B6/136(2006.01)I;G02B6/132(2006.01)I;G02B6/13(2006.01)I;G02B6/12(2006.01)I 主分类号 G02B6/136(2006.01)I
代理机构 长沙市融智专利事务所 43114 代理人 魏娟
主权项 一种提高PLC光波导性能的晶圆加工方法,包括以下制备步骤:在硅晶圆材料上生长沉积二氧化硅衬底层后,或是直接以石英玻璃或耐热的光学玻璃材料制得的晶圆为衬底层,通过光刻和干蚀工艺将波导芯的图案刻蚀在衬底层中形成凹槽;而后再在衬底层上沉积波导芯层;将衬底层上面波导芯层材料去掉,使得衬底层嵌有波导芯,再沉积覆盖层。
地址 410200 湖南省长沙市望城经济技术开发区同心路1号