发明名称 半导体装置的制造方法
摘要
申请公布号 TWI503898 申请公布日期 2015.10.11
申请号 TW102123176 申请日期 2010.06.29
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 佐佐木俊成;坂田淳一郎;大原宏树;山崎舜平
分类号 H01L21/336;H01L21/28 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种半导体装置的制造方法,包含步骤如下:在基板上形成绝缘层;在该绝缘层上形成第一氧化物半导体层;在该第一氧化物半导体层上形成第二氧化物半导体层;在该第一氧化物半导体层和该第二氧化物半导体层上进行第一热处理;在该第一热处理后,在含氧的氛围中冷却该第一氧化物半导体层和该第二氧化物半导体层;在该第一热处理后,在该第一氧化物半导体层和该第二氧化物半导体层上形成导电膜;蚀刻该导电膜以形成源极电极层和汲极电极层;以及形成氧化物绝缘膜以和该第二氧化物半导体层的一部份接触,其中该第一热处理在惰性气体氛围中进行。
地址 日本