发明名称 用于改善光点大小的八极装置及方法
摘要
申请公布号 TWI503858 申请公布日期 2015.10.11
申请号 TW102134138 申请日期 2013.09.23
申请人 ICT积体电路测试股份有限公司 发明人 克拉玛艾勒克山卓;拉尼欧史帝芬
分类号 H01J37/153 主分类号 H01J37/153
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 一种在一扫描带电粒子束装置中补偿机械、磁性或静电不准确度之方法,该方法包含以下步骤:一对准程序,该程序包含以下步骤:利用具有至少8极补偿能力的一元件补偿4级像散;其中该对准程序之该等对准及补偿步骤作用于一带电粒子束上,其中该带电粒子束的束尺寸在两个正交方向上各具有至少50μm,且其中该带电粒子束至少与该元件同轴对准,其中该元件至少具有该8极补偿能力。
地址 德国