发明名称 用于测量电阻结构的电阻値之方法和系统
摘要
申请公布号 TWI503646 申请公布日期 2015.10.11
申请号 TW103100261 申请日期 2014.01.03
申请人 线性科技股份有限公司 发明人 安格柏罕汉缪
分类号 G05F3/00 主分类号 G05F3/00
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 一种用于测量电气电阻的系统,包含:一电阻性结构,该电阻性结构具有:在该电阻性结构的一第一端的一第一节点;在该电阻性结构的一第二端的一第二节点;以及在该电阻性结构上的一第三节点,该第三节点位于该第一节点与该第二节点之间;一校正电流产生电路,该校正电流产生电路具有耦接至该电阻性结构的该第三节点的一输出;及一讯号调节电路,该讯号调节电路包含:耦接至该电阻性结构的该第一节点的一第一输入;耦接至该电阻性结构的该第二节点的一第二输入;耦接至该电阻性结构的该第三节点的一第三输入;以及一输出,其中该讯号调节电路经配置以在该讯号调节电路的输出处提供一讯号,该讯号与该电阻性结构的该第三节点处的一电压及该电阻性结构的该第一节点与该第二节点处的电压的一加权平均之间的一差异成比例。
地址 美国