发明名称 用于微电路测试器的导电开尔文接触件
摘要
申请公布号 TWI503553 申请公布日期 2015.10.11
申请号 TW100137922 申请日期 2011.10.19
申请人 琼斯科技国际公司 发明人 艾德曼 乔尔N;雪利 杰佛利C;麦查克 盖瑞W
分类号 G01R1/073;G01R31/28 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种用以于具有数个端子的待测器件(DUT)间形成数个暂时性的机械及电气连接的装置,包含:数个电气传导施力接触件,其朝向一待测器件延伸且系可偏转,该等数个施力接触件中之每一施力接触件系侧向地排列以对应一端子;该等施力接触件系为数个垂直地定向间隔弹簧偏压销,每一销包括一接触点,该接触点系对准以接合未与该端子正交的该端子的一部分上的该等端子;以及数个电气传导感测接触件,该等数个感测接触件中之每一感测接触件系侧向地排列以对应一施力接触件及一端子,该等数个感测接触件中之每一感测接触件系朝向该待测器件(DUT)延伸接近对应施力接触件;其中该等数个感测接触件中之每一感测接触件包括朝向待测器件弹性地延伸的一自由移动部分;其中该感测接触件系与该对应施力接触件侧向分离;以及其中该自由部分包括位于其末端的具有足够间隔以容许该施力接触件通过的一小孔。
地址 美国