| 发明名称 | 基于缺陷微带结构和缺陷地结构的双频带带阻滤波器 | ||
| 摘要 | 本发明公开了基于缺陷微带结构和缺陷地结构的双频带带阻滤波器，包括：介质基板(1)、设于介质基板(1)底面上的金属镀层接地板(2)及设于介质基板(1)上面的金属微带线(3)，接地板(2)和微带线(3)上均刻蚀有δ形缺陷结构。本发明通过利用刻蚀有δ形缺陷结构的接地板和微带线构成双频带带阻滤波器，从而可以有效提高双频带带阻滤波器的选择特性；此外，本发明双频带带阻滤波器的两个阻带的中心频率可以通过改变缺陷微带结构和缺陷地结构的长度实现独立调节，两个带宽可以通过改变缺陷微带结构和缺陷地结构的缝隙宽度实现独立调节。 | ||
| 申请公布号 | CN104966873A | 申请公布日期 | 2015.10.07 |
| 申请号 | CN201510435497.4 | 申请日期 | 2015.07.22 |
| 申请人 | 东北大学 | 发明人 | 喇东升;贾守卿;马雪莲 |
| 分类号 | H01P1/203(2006.01)I | 主分类号 | H01P1/203(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 | 代理人 | 刘美莲;郭防 |
| 主权项 | 基于缺陷微带结构和缺陷地结构的双频带带阻滤波器，其特征在于，包括：介质基板(1)、设于介质基板(1)底面上的金属镀层接地板(2)及设于介质基板(1)上面的金属微带线(3)，所述的接地板(2)和微带线(3)上均刻蚀有δ形缺陷结构。 | ||
| 地址 | 110819 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号 | ||