发明名称 一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置
摘要 本发明提供了一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置。含有闭式谐振腔、被测介质材料、支撑柱、耦合探针、测试电缆、矢量网络分析仪以及底座、耦合探针夹持件;其特征在于被测介质材料放置于闭式谐振腔内部的支撑柱上,耦合探针通过耦合孔伸入闭式谐振腔内,经测试电缆连接于矢量网络分析仪,闭式谐振腔固定放置于底座中部位置,耦合探针夹持件放置于底座上并分列于闭式谐振腔两侧,耦合探针固定于耦合探针夹持件上。本发明适用于低损耗和高损耗介质材料的测量。
申请公布号 CN104965127A 申请公布日期 2015.10.07
申请号 CN201510305232.2 申请日期 2015.06.05
申请人 中国工程物理研究院计量测试中心 发明人 王益;张;王建忠;魏竹
分类号 G01R27/26(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人 翟长明;韩志英
主权项 一种微波闭式谐振腔复介电常数测量装置,含有闭式谐振腔(1)、被测介质材料(2)、支撑柱(3)、耦合探针(4)、测试电缆(5)、矢量网络分析仪(6)以及底座(8)、耦合探针夹持件(9);其特征在于被测介质材料(2)放置于闭式谐振腔(1)内部的支撑柱(3)上,耦合探针(4)通过耦合孔伸入闭式谐振腔(1)内,经测试电缆连接于矢量网络分析仪(6),闭式谐振腔固定放置于底座(8)中部位置,耦合探针夹持件(9)放置于底座(8)上并分列于闭式谐振腔(1)两侧,耦合探针(4)固定于耦合探针夹持件(9)上。
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