一种用于检测管盖芯片的装置

摘要

本发明公开了一种用于检测管盖芯片的装置，包括平台底板、滑动平台、支架和CCD信号采集器，所述滑动平台上方设有反应杯架，所述反应杯架位于所述支架一侧，所述支架靠近所述反应杯架的一端设有前遮光板，所述支架的另一端设有测量室遮光罩，所述支架内部设有激光发射器、位于所述激光发射器一侧的分束器和位于所述分束器上方的镜头光路系统，所述CCD信号采集器与所述镜头光路系统通过连接反应杯架在滑动平台上自动进出，实现自动将管盖芯片逐个送入支架中，信号采集系统自动对逐个送入的管盖芯片进行检查，全程实现自动化，无需人工操作，大大提高了检测效率，同时提高了检测精度。

主权项

一种用于检测管盖芯片的装置，其特征在于：包括平台底板(6)、滑动平台(9)、支架(4)和CCD信号采集器(2)，所述滑动平台(9)和所述支架(4)均设于所述平台底板(6)上方，所述支架(4)位于所述滑动平台(9)上方，所述CCD信号采集器(2)位于所述支架(4)的正上方，所述滑动平台(9)上方设有反应杯架(8)，所述反应杯架(8)位于所述支架(4)一侧，所述支架(4)靠近所述反应杯架(8)的一端设有前遮光板(10)，所述支架(4)的另一端设有测量室遮光罩(7)，所述支架(4)内部设有激光发射器(1)、位于所述激光发射器(1)一侧的分束器(5)和位于所述分束器(5)上方的镜头光路系统(3)，所述CCD信号采集器(2)与所述镜头光路系统(3)通过连接。