一种超导体特性测评仪

摘要

本发明公开了一种超导体特性测评仪，包括，交互终端，用于接收待测超导体理论参数信号的输入；信号测量模块，用于测量待测超导体的测量参数，并对所述测量参数进行处理，得到测量结果；理论值计算模块，用于接收所述交互终端输出的信号，对所述交互终端输出的待测超导体的所述理论参数进行处理，得到理论结果；数据分析模块，用于接收所述测量结果与所述理论结果并进行处理，得到修正结果；显示终端，用于显示所述修正结果，所述显示终端还用于当所述交互终端有所述参数信号输入时，显示所述参数信号。本发明的一种超导体特性测评仪用途广泛、结构简单、成本低廉、使用方便、并能够测量分析多种超导体参数。

主权项

一种超导体特性测评仪，其特征在于，包括：    交互终端，用于接收待测超导体理论参数信号的输入；信号测量模块，用于测量待测超导体的测量参数，并对所述测量参数进行处理，得到测量结果；理论值计算模块，连接所述交互终端，用于接收所述交互终端输出的信号，对所述交互终端输出的待测超导体的所述理论参数进行处理，得到理论结果；数据分析模块，连接所述信号测量模块与所述理论值计算模块，用于接收所述测量结果与所述理论结果并进行处理，得到修正结果；显示终端，连接所述数据分析模块，用于显示所述修正结果，所述显示终端还用于当所述交互终端有所述参数信号输入时，显示所述参数信号；所述超导体为超导短线样品、超导线圈、超导磁体、超导装置中的任一种。