发明名称 一种半导体集成电路芯片测试设备照明装置
摘要 本发明提供了一种半导体集成电路芯片测试设备照明装置,含有光源电器线路和光源头,光源电器线路产生R、G、B 三基色LED 光源,另有COM 作为三基色LED公共正电极。光源头含有灯壳、定位件、压盖、尾盖、密封胶。光源电器线路中连接有调光器电路,调光器电路一方面通过改变电流而改变三基色LED 光源的光强;另一方面分别改变三基色LED 光源的光强后,获得R、G、B 颜色的不同发光强度,进而获得不同的合成光颜色。光源电器线路中还采用光频闪技术,提高集成电路芯片灰度。光源头出光端面还连接有光扩散片,使得出光均匀度提高。本发明的照明光强、颜色和频闪频率连续可调,提高测试系统的测试能力和测试效果,并且在集成电路芯片测试过程中没有影子,可以更清楚的观察芯片测试效果,使用寿命可比传统的钨丝灯泡提高200 倍以上。
申请公布号 CN104968072A 申请公布日期 2015.10.07
申请号 CN201510313441.1 申请日期 2015.06.10
申请人 江苏杰进微电子科技有限公司 发明人 刘振华;殷国海
分类号 H05B37/02(2006.01)I 主分类号 H05B37/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种半导体集成电路芯片测试设备照明装置,包含光源电器线路和光源头,其特征在于:所述的光源电器线路能够产生R 基色LED 光源(1)、G 基色LED光源(2)、B 基色LED光源(3),另有COM电极(4)作为三个基色LED公共正电极,三种基色LED光源合成为三基色LED光源(15);光源电器线路中连接有调光器电路(5);调光器电路(5)一方面改变光源电器线路中产生的三基色LED光源(15)的光强;调光器电路(5)另一方面通过分别改变的三基色LED 光源(15)的光强,获得R、G、B 颜色的不同发光强度,能够获得不同的合成光颜色;所述的光源电器线路产生的R、G、B 三基色LED 光源(15)通过三基色LED 光源引线(13)引入所述的光源头;所述的光源头含有灯壳(7)、定位件(8)、压盖(9)、尾盖(10)、密封胶(11)、三基色LED光源灯泡(12);灯壳(7)包裹除尾盖(10)之外的其他部件;尾盖(10)连接在灯壳(7)的尾部,三基色LED 光源引线(13)穿过尾盖(10),与三基色LED 光源灯泡(12)连接;压盖(9)在密封胶(11)与灯壳(7)之间,也在定位件(8)与尾盖(10)之间;密封胶(11)起固定和保护三基色LED 光源引线(13)的作用;定位件(8)在灯壳(7)与三基色LED 光源灯泡(12)之间,起固定三基色LED 光源灯泡(12)的作用。
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