摘要 |
本发明提供了一种半导体集成电路芯片测试设备照明装置,含有光源电器线路和光源头,光源电器线路产生R、G、B 三基色LED 光源,另有COM 作为三基色LED公共正电极。光源头含有灯壳、定位件、压盖、尾盖、密封胶。光源电器线路中连接有调光器电路,调光器电路一方面通过改变电流而改变三基色LED 光源的光强;另一方面分别改变三基色LED 光源的光强后,获得R、G、B 颜色的不同发光强度,进而获得不同的合成光颜色。光源电器线路中还采用光频闪技术,提高集成电路芯片灰度。光源头出光端面还连接有光扩散片,使得出光均匀度提高。本发明的照明光强、颜色和频闪频率连续可调,提高测试系统的测试能力和测试效果,并且在集成电路芯片测试过程中没有影子,可以更清楚的观察芯片测试效果,使用寿命可比传统的钨丝灯泡提高200 倍以上。 |