发明名称 |
图像传感器和图像传感器的使用方法、制造方法 |
摘要 |
一种图像传感器和图像传感器的使用方法、制造方法,所述图像传感器包括:多个像素单元,所述像素单元形成于第一隔离结构、第二隔离结构之间,所述像素单元包括:衬底;位于衬底上的第一型掺杂阱区,位于所述第一型掺杂阱区中的第二型轻掺杂区,位于所述第二型轻掺杂区中的第一型轻掺杂区、第一型重掺杂区、第二型重掺杂区,所述第一型轻掺杂区、第一型重掺杂区、第二型重掺杂区依次位于第一隔离结构和第二隔离结构之间。本发明可以改善图像滞后现象。 |
申请公布号 |
CN102332458B |
申请公布日期 |
2015.10.07 |
申请号 |
CN201110213087.7 |
申请日期 |
2011.07.28 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
巨晓华;饶金华;周雪梅;吴小利;张克云 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种图像传感器,包括多个像素单元,所述像素单元形成于第一隔离结构、第二隔离结构之间,其特征在于,所述像素单元包括:衬底,位于衬底上的第一型掺杂阱区,位于所述第一型掺杂阱区中的第二型轻掺杂区,位于所述第二型轻掺杂区中的第一型轻掺杂区、第一型重掺杂区、第二型重掺杂区,所述第一型轻掺杂区、第一型重掺杂区、第二型重掺杂区依次位于第一隔离结构和第二隔离结构之间;所述第一型掺杂阱区为P型阱区,所述第二型轻掺杂区为N型轻掺杂区,所述第一型轻掺杂区为P型轻掺杂区,所述第一型重掺杂区为P型重掺杂区,所述第二型重掺杂区为N型重掺杂区;所述P型阱区与N型轻掺杂区交界的位置处形成第一PN结,所述P型轻掺杂区与N型轻掺杂区交界的位置处形成第二PN结;靠近P型轻掺杂区一侧的P型重掺杂区与N型轻掺杂区交界的位置处形成第三竖向PN结;所述图像传感器分为光电传感器区域和CMOS管区域,所述图像传感器还包括位于衬底上的透光介质层、设置于所述透光介质层中的遮光层,所述遮光层位于P型重掺杂区、N型重掺杂区上的CMOS管区域。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |