发明名称 一种高阻隔薄膜的制备方法
摘要 本发明涉及一种高阻隔薄膜制备的方法,其技术方案为,首先将基材放置于基片台或绕于电极辊上,并对反应室抽真空,之后对基材进行表面活性处理,然后通入有机硅化合物蒸气和含氧气体等成膜气体并调节气压,再开启粉尘粒子清除装置的电源并调节施加于捕集电极上的电压,之后开启射频电源功率开关并调节馈入功率,开始碳氧化硅薄膜沉积,至得到柔性透明超高阻隔碳氧化硅薄膜样品,最后关闭射频电源,停止成膜气体的通入,再关闭粉尘粒子清除装置的电源,停止真空抽气,待真空腔室放气完成后,取出样品。本发明可实现碳氧化硅薄膜无污染的制备,具有制备工艺简单,薄膜沉积速率高,有利于实现大规模工业化生产等优点。
申请公布号 CN104962875A 申请公布日期 2015.10.07
申请号 CN201510376479.3 申请日期 2015.07.01
申请人 中国乐凯集团有限公司 发明人 路万兵;刘贤豪;李丽;于威;黄尚鸿
分类号 C23C16/02(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I 主分类号 C23C16/02(2006.01)I
代理机构 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 代理人 李羡民;郭绍华
主权项 一种高阻隔薄膜的制备方法,包括下述工艺步骤:(1)将基材放置于基片台或绕于电极辊上,并对反应室抽真空至1×10<sup>‑2</sup> Pa以下;(2)使用Ar或O<sub>2</sub>等离子体对基材表面进行活性处理;(3)使用等离子体对成膜气体进行化学气相沉积,在基材上沉积高阻隔层,得到柔性透明高阻隔薄膜,其特征在于, 所述高阻隔薄膜光透过率80%以上;所述等离子体化学气相沉积时在真空室内使用粉尘粒子清除装置,并在通入成膜气体后、开启射频电源之前,开启粉尘粒子清除装置;所述粉尘粒子清除装置为包含至少一个捕集粉尘粒子的电极、控制捕集电极电位的电源和电路、粉尘粒子存储及将被捕集的粉尘粒子排除真空腔外的装置。
地址 071054 河北省保定市乐凯南大街6号