| 摘要 |
본 발명은 단일-표지 고정화 프로브를 이용하며, 고상에서 반복적 엑소핵산 절단 반응(cyclic exonucleolytic reaction, CER) 또는 엑소핵산 절단 반응(exonucleolytic reaction, ER)에 의하여 타겟 핵산서열을 검출하는 신규한 방법에 관한 것이다. 본 발명은 단일-표지 시스템을 이용하여 고상에서 타겟 핵산서열을 검출할 수 있도록 한다. 이중 표지법과 같은 다중-표지 시스템과 비교하여, 단일-표지 프로브를 이용하는 본 발명은 프로브 디자인 및 제작에 있어 편의성 및 비용 효용성 면에서 매우 탁월한 이점을 갖는다. 게다가, 본 발명에서 반응 동안의 시그널 감소의 변화 측정은 타겟 핵산서열의 보다 정확한 정성 및 정량적 분석을 초래한다. |
