| 摘要 |
Eine hierin offenbarte Untersuchungseinrichtung enthält: eine Spannungsquelle, einen Induktor, der zwischen der Spannungsquelle und der Halbleitereinrichtung bereitgestellt ist; eine Diode, die parallel zu dem Induktor verbunden ist, und eine Anode hat, die mit einer negativen Seite des Induktors verbunden ist, und eine Kathode hat, die mit einer positiven Seite des Induktors verbunden ist; und einen Stromabschaltmechanismus, der zwischen der Spannungsquelle und der Halbleitereinrichtung verbunden ist und konfiguriert ist, einen Zufluss von Strom zu der Halbleitereinrichtung abzuschalten, wobei der Stromabschaltmechanismus beginnt, den Zufluss von Strom zu der Halbleitereinrichtung vor einem Zeitpunkt abzuschalten, bei dem eine Spannung, die an die Halbleitereinrichtung angelegt ist, stabilisiert ist, nachdem sie einen Anstieg zu einer Stoßspannung erfahren hat, wobei der Anstieg dadurch veranlasst wurde, dass die Halbleitereinrichtung abgeschaltet wurde, und der Stromabschaltmechanismus das Abschalten nach dem Zeitpunkt vollendet. |
