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经营范围
发明名称
半导体元件测试用分选机及其工作方法
摘要
本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行,由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置,其中,所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此,具有可以大幅度地减少管理者的手动作业,并提高分选机的运行率的效果。
申请公布号
TW201537192
申请公布日期
2015.10.01
申请号
TW104105353
申请日期
2015.02.16
申请人
泰克元股份有限公司 TECHWING., CO. LTD.
发明人
金鎭洙 KIM, JIN SOO;洪光珍 HONG, KWANG JIN
分类号
G01R31/26(2014.01)
主分类号
G01R31/26(2014.01)
代理机构
代理人
蔡坤财李世章
主权项
地址
南韩 KR
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