发明名称 Temperaturmessvorrichtung, integrierter Schaltkreis und Temperaturmessverfahren
摘要 In einem ersten Messzustand, in dem ein erster Strom in einer Vorwärtsrichtung bezüglich eines pn-Übergangs eines ersten Halbleiterelementes fließt und ein zweiter Strom einer von dem ersten Strom unterschiedlichen Größe in einer Vorwärtsrichtung bezüglich eines pn-Übergangs eines zweiten Halbleiterelementes fließt, wird eine Differenz zwischen einer Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes und einer Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes in einen Digitalwert durch einen Computer umgewandelt und als ein erster Digitalwert akquiriert. In einem zweiten Messzustand, in dem der zweite Strom in der Vorwärtsrichtung in dem pn-Übergang des ersten Halbleiterelementes fließt und der erste Strom in der Vorwärtsrichtung in dem pn-Übergang des zweiten Halbleiterelementes fließt, wird eine Differenz zwischen der Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes und der Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes in einen Digitalwert durch den Computer umgewandelt und als ein zweiter Digitalwert akquiriert. Ein Temperaturmesswert wird auf Grundlage eines Mittelwertes des ersten Digitalwertes und des zweiten Digitalwertes durch den Computer berechnet.
申请公布号 DE102015202520(A1) 申请公布日期 2015.10.01
申请号 DE201510202520 申请日期 2015.02.12
申请人 SOCIONEXT INC. 发明人 MIYAZAKI, TAKASHI;HAMANO, HIROYUKI
分类号 G01K7/01 主分类号 G01K7/01
代理机构 代理人
主权项
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