发明名称 METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE WALL THICKNESS OF A COMPONENT
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Wand- dicke eines eine gerichtete Gefügestruktur aufweisenden Bau- teils (2), insbesondere eines monokristallinen Bauteils (2), an einer vorbestimmten Bauteilposition mittels Ultraschall, bei dem in einem ersten Schritt die Schallgeschwindigkeit er- mittelt wird, mit der sich Schall an der vorbestimmten Bau- teilposition in dem Bauteil (2) ausbreitet, und in einem zweiten Schritt die Wanddicke des Bauteils (2) an der vorbe- stimmten Bauteilposition mittels Ultraschall unter Berück- sichtigung der ermittelten Schallgeschwindigkeit bestimmt wird. Ferner betrifft die Erfindung ein System (1) zur Durch- führung des Verfahrens.</p>
申请公布号 WO2015144414(A1) 申请公布日期 2015.10.01
申请号 WO2015EP54600 申请日期 2015.03.05
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCZEPUREK, TRISTAN
分类号 G01B17/02;G01N23/20;G01N29/07 主分类号 G01B17/02
代理机构 代理人
主权项
地址