发明名称 Grabentransistorbauelement
摘要 <p>Ein Transistorbauelement enthält ein Halbleiter-Mesagebiet zwischen ersten und zweiten Gräben in einem Halbleiterkörper, ein Bodygebiet von einem ersten Leitfähigkeitstyp und ein Sourcegebiet von einem zweiten Leitfähigkeitstyp in dem Halbleiter-Mesagebiet, ein Driftgebiet vom zweiten Leitfähigkeitstyp in dem Halbleiterkörper, und eine Gateelektrode, die sich benachbart zu dem Bodygebiet in dem ersten Graben befindet und die durch ein Gatedielektrikum von dem Bodygebiet dielektrisch isoliert ist. Das Bodygebiet separiert das Sourcegebiet von dem Driftgebiet und erstreckt sich benachbart zu dem Sourcegebiet zu der Oberfläche des Halbleiter-Mesagebiets. Das Bodygebiet weist ein Oberflächengebiet auf, das an die Oberfläche des Halbleiter- Mesagebiets und den ersten Graben angrenzt. Das Oberflächengebiet weist eine höhere Dotierungskonzentration auf als ein Abschnitt des Bodygebiets, der das Sourcegebiet von dem Driftgebiet separiert.</p>
申请公布号 DE102015104504(A1) 申请公布日期 2015.10.01
申请号 DE201510104504 申请日期 2015.03.25
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 PHILIPPOU, ALEXANDER;JÄGER, CHRISTIAN;PFIRSCH, FRANK DIETER;LAVEN, JOHANNES GEORG;VELLEI, ANTONIO;WOLTER, FRANK
分类号 H01L29/739;H01L29/06;H01L29/36;H01L29/78 主分类号 H01L29/739
代理机构 代理人
主权项
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