发明名称 |
Grabentransistorbauelement |
摘要 |
<p>Ein Transistorbauelement enthält ein Halbleiter-Mesagebiet zwischen ersten und zweiten Gräben in einem Halbleiterkörper, ein Bodygebiet von einem ersten Leitfähigkeitstyp und ein Sourcegebiet von einem zweiten Leitfähigkeitstyp in dem Halbleiter-Mesagebiet, ein Driftgebiet vom zweiten Leitfähigkeitstyp in dem Halbleiterkörper, und eine Gateelektrode, die sich benachbart zu dem Bodygebiet in dem ersten Graben befindet und die durch ein Gatedielektrikum von dem Bodygebiet dielektrisch isoliert ist. Das Bodygebiet separiert das Sourcegebiet von dem Driftgebiet und erstreckt sich benachbart zu dem Sourcegebiet zu der Oberfläche des Halbleiter-Mesagebiets. Das Bodygebiet weist ein Oberflächengebiet auf, das an die Oberfläche des Halbleiter- Mesagebiets und den ersten Graben angrenzt. Das Oberflächengebiet weist eine höhere Dotierungskonzentration auf als ein Abschnitt des Bodygebiets, der das Sourcegebiet von dem Driftgebiet separiert.</p> |
申请公布号 |
DE102015104504(A1) |
申请公布日期 |
2015.10.01 |
申请号 |
DE201510104504 |
申请日期 |
2015.03.25 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
PHILIPPOU, ALEXANDER;JÄGER, CHRISTIAN;PFIRSCH, FRANK DIETER;LAVEN, JOHANNES GEORG;VELLEI, ANTONIO;WOLTER, FRANK |
分类号 |
H01L29/739;H01L29/06;H01L29/36;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L29/739 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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