发明名称 | 滤除异物杂讯的亮点检测设备及其方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI502186 | 申请公布日期 | 2015.10.01 |
申请号 | TW103116360 | 申请日期 | 2014.05.08 |
申请人 | 由田新技股份有限公司 | 发明人 | 林品杰;李耀生 |
分类号 | G01N21/88 | 主分类号 | G01N21/88 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种滤除异物杂讯的亮点检测设备,系用于对一待测面板的表面进行检测以取得该待测面板的亮点分布影像,该亮点检测设备包含有:一检测平台,供该待测面板设置;一取像装置,设置于该检测平台一侧,依据一摄像指令对该待测面板的表面进行取像;一背面光源,设置于该检测平台相对该取像装置的一侧;一或复数个侧向光源,设置于该检测平台的一正面及/或一背面的周侧,该侧向光源的照射方向与该待测面板的表面间的夹角系介于20度至30度之间;以及一运算器,系包含有一取像指示器,以及一影像处理器,该取像指示器藉由启动该背面光源并传送该摄像指令至该取像装置以取得一混和瑕疵表面影像,藉由启动该侧向光源并传送该摄像指令至该取像装置以取得一异物瑕疵表面影像,该影像处理器系依据该异物瑕疵表面影像而滤除该混和瑕疵表面影像上的异物杂讯,藉以输出一亮点分布影像。 | ||
地址 | 新北市中和区连城路268号10楼之1 |