发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 改善所谓形成于多层膜之孔洞的深度空间之垂直性。;提供一种半导体装置之制造方法,系将包含具有互相相异之介电率,且交互地层积之第1膜及第2膜的多层膜在电浆处理装置之处理容器内透过遮罩来加以蚀刻。该方法系反覆实行包含有:(a)将含有O2气体或N2气体及稀有气体之第1气体供给至该处理容器内,而激发该第1气体之工序;(b)将含有氟碳系气体或氟氢碳系气体之第2气体供给至该处理容器内,而激发该第2气体之工序;以及(c)将含有HBr气体、含氟气体以及氟碳系气体或氟氢碳系气体之第3气体供给至该处理容器内,而激发该第3气体之工序的机制。
申请公布号 TW201537636 申请公布日期 2015.10.01
申请号 TW103143995 申请日期 2014.12.17
申请人 东京威力科创股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 高山航 TAKAYAMA, WATARU;松山昇一郎 MATSUYAMA, SHOICHIRO;野上达 NOGAMI, SUSUMU;田村大辅 TAMURA, DAISUKE;林恭辅 HAYASHI, KYOSUKE;川野部润 KAWANOBE, JUN
分类号 H01L21/3065(2006.01);H01L21/308(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 林秋琴陈彦希
主权项
地址 日本 JP