发明名称 |
半导体装置、预写入程式及复原程式;SEMICONDUCTOR, PRE-WRITE PROGRAM AND RESTORATION PROGRAM |
摘要 |
本发明系一种半导体装置,预写入程式及复原程式,其中,控制电路(105)系在接受第1消除指令时,控制使第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压同时进行增加之第1预写入处理之执行,之后,第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压则至成为较特定之消除验证位准为小为止,控制使第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压同时减少之消除处理之执行。控制电路(105)系在接受第2消除指令时,控制使第1记忆元件(102)与第2记忆元件(103)之中的一方之临界值电压增加之第2预写入处理之执行,之后,控制消除处理之执行。 |
申请公布号 |
TW201537574 |
申请公布日期 |
2015.10.01 |
申请号 |
TW103131145 |
申请日期 |
2014.09.10 |
申请人 |
瑞萨电子股份有限公司 RENESAS ELECTRONICS CORPORATION |
发明人 |
谷国雄 TANI, KUNIO |
分类号 |
G11C16/06(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/06(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |