发明名称 半导体装置、预写入程式及复原程式;SEMICONDUCTOR, PRE-WRITE PROGRAM AND RESTORATION PROGRAM
摘要 本发明系一种半导体装置,预写入程式及复原程式,其中,控制电路(105)系在接受第1消除指令时,控制使第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压同时进行增加之第1预写入处理之执行,之后,第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压则至成为较特定之消除验证位准为小为止,控制使第1记忆元件(102)之临界值电压与第2记忆元件(103)之临界值电压同时减少之消除处理之执行。控制电路(105)系在接受第2消除指令时,控制使第1记忆元件(102)与第2记忆元件(103)之中的一方之临界值电压增加之第2预写入处理之执行,之后,控制消除处理之执行。
申请公布号 TW201537574 申请公布日期 2015.10.01
申请号 TW103131145 申请日期 2014.09.10
申请人 瑞萨电子股份有限公司 RENESAS ELECTRONICS CORPORATION 发明人 谷国雄 TANI, KUNIO
分类号 G11C16/06(2006.01) 主分类号 G11C16/06(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP