| 发明名称 | PDP基板介质层特性测试装置 | ||
| 摘要 | 一种PDP基板介质层特性测试装置，属于一种平板电视检测技术，包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6)，盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接，其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201，202，203，204，205)，在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5)，该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配，在承片台(3)中安装有无油真空泵(4)，无油真空泵(4)的吸气口承片台(3)上的抽气口(7)相通，耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201，202，203，204，205)相连。本发明解决了生产急需，具有结构简单，操作方便，测试准确可靠的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN101162253A | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
| 申请号 | CN200710190474.7 | 申请日期 | 2007.11.30 |
| 申请人 | 南京华显高科有限公司 | 发明人 | 吉志坚;李青;张雄;朱立锋;王保平;林青园 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01);G01R31/12(2006.01);G09G3/00(2006.01);G09G3/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
| 代理机构 | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人 | 夏平;瞿网兰 |
| 主权项 | 1.一种PDP基板介质层特性测试装置，包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6)，盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接，其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201，202，203，204，205)，其中电极引出条(202)与大面积导电薄膜(2)相连，电极引出条(201，203，204，205)与被测PDP基板的前基板和后基板上的电极相对应；在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5)，该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配，在承片台(3)中安装有无油真空泵(4)，无油真空泵(4)的吸气口与承片台(3)上的抽气口(7)相通，耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201，202，203，204，205)相连。 | ||
| 地址 | 210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室 | ||