| 发明名称 | 用于检验物体的方法和装置 | ||
| 摘要 | 一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。 | ||
| 申请公布号 | CN1955719A | 申请公布日期 | 2007.05.02 |
| 申请号 | CN200610163907.5 | 申请日期 | 2006.10.24 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | 胡庆英;D·W·哈米尔顿;K·G·哈丁;J·B·洛斯 |
| 分类号 | G01N21/00(2006.01);G01N21/95(2006.01);G01N21/41(2006.01);G01B11/00(2006.01);G01B11/02(2006.01);G01B11/24(2006.01);G01M15/00(2006.01);G01M15/02(2006.01) | 主分类号 | G01N21/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;梁永 |
| 主权项 | 1.一种用于检验物体(12)的方法(38)，所述方法包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||