METHOD OF TESTING UNLOADED, LARGE-AREA PRINTED CIRCUIT BOARDS WITH A FINGER TESTER

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen von unbestückten, großflächigen, Leiterbahnen aufweisenden Leiterplatte mit einem Fingertester. Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die Leiterplatten (3) in mehreren Segmenten (I, II, III) unterteilt getestet, wobei Leiterbahnen (2) , die sich über ein Segment hinaus erstrecken mittels kapazitiver Messung der in dem jeweiligen Segment befindlichen Endpunkte getestet werden, wobei eine Unterbrechung der Leiterbahn festgestellt wird, falls sich ein Messwert der zu einer Leiterbahn gehörenden kapazitiven Messwerte der sich von anderen Messwerten signifikant unterscheidet.