| 摘要 |
<p>Elektrisches System (1) , das sich in einem Halbleiterbauteilgehäuse (10) befindet, wobei das Halbleiterbauteilgehäuse (10) mindestens einen Halbleiterchip enthält, wobei mindestens einer der Halbleiterchips einen Speicher enthält, wobei der Speicher in Speicherbereiche (5, 6, 7) , die jeweils eine Vielzahl von Speicherzellen enthalten, unterteilt ist, wobei das elektrische System ein Register (9) enthält, in dem die Information darüber gespeichert ist, ob Speicherbereiche (5, 6, 7) nur funktionierende Speicherzellen aufweisen, und ob Speicherbereiche (5, 6, 7) sowohl funktionierende als auch eine Anzahl von defekten Speicherzellen aufweisen, wobei die Anzahl von defekten Speicherzellen durch eine Obergrenze begrenzt ist. Dabei kann Anwendungen, die weniger fehleranfällig sind ein Bereich zugewiesen werden, der sowohl funktionierende als auch eine Anzahl von defekten Speicherzellen aufweist, Anwendungen, die fehleranfälliger sind, wird ein Bereich zugewiesen, der nur funktionierende Speicherzellen aufweist.</p> |
