Verfahren zum Trennen unterschiedlicher Emissionswellenlängen in einem Scanmikroskop,申请号DE20031057584-传众专利搜索

发明名称	Verfahren zum Trennen unterschiedlicher Emissionswellenlängen in einem Scanmikroskop
摘要
申请公布号	DE10357584(B4)	申请公布日期	2006.06.14
申请号	DE20031057584	申请日期	2003.12.08
申请人	LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH	发明人	SEYFRIED, VOLKER;STORZ, RAFAEL
分类号	G02B21/00;G02B21/06;G01J3/44;G02B21/16	主分类号	G02B21/00
代理机构		代理人
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