样品室温度可控的分光光度计

摘要

本发明公开了一种样品室温度可控的分光光度计。从灯源发出的宽光谱光束，经双调制盘、单色仪、滤光片、偏振器变成单光波长偏振光束，经加热装置变成探测光射入光电探测器；加热装置定位在可旋转的样品台上，样品台通过转轴与探测器转臂相连，光电探测器在探测器转臂的另一侧，探测器转臂通过步进电机驱动，光度计由控制器控制；本发明解决了一般的分光光度计无法测量某一恒定温度下光学样品透、反射特性或透、反射特性随温度变化的难题。该装置适用于对使用温度要求较高的光学元件如光学薄膜等的透、反射率测量。

主权项

1.一种样品室温度可控的分光光度计，其特征在于从灯源(1)发出的宽光谱光束，经双调制盘(2)、单色仪(3)、滤光片(4)、偏振器(5)变成单光波长偏振光束(6)，经加热装置(9)变成探测光射入光电探测器(12)；整个加热装置(9)定位在可旋转的样品台(10)上，样品台(10)通过转轴与探测器转臂(14)相连，光电探测器(12)在探测器转臂(14)的另一侧，探测器转臂(14)通过步进电机(13)驱动，光度计由控制器控制；加热装置(9)具有加热装置底盘(9.4)，在加热装置底盘(9.4)上依次连接有陶瓷垫片(9.3)、加热底座(9.2)，在加热底座(9.2)内设有加热管(9.5)、热电偶(9.6)，陶瓷垫片(9.3)、加热底座(9.2)外侧设有隔热罩(9.1)，热电偶(9.6)、加热管(9.5)分别与加热控制器(19)相连。