| 发明名称 |
INSPECTION CIRCUIT APPARATUS AND METHOD FOR MEMORY CELL |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPS63241800(A) |
申请公布日期 |
1988.10.07 |
| 申请号 |
JP19880059193 |
申请日期 |
1988.03.11 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
RAINAA KURAUSU;OSUKAARU KOWARIIKU;KURUTO HOFUMAN;MANFUREETO PAURU |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C11/401;G11C29/34;G11C29/36;G11C29/38 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
