首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
半导体装置之检验方法及系统
摘要
本发明是关于藉同时检验数个同型半导体装置之并连检验项目,若此项目检验通过则省略后续之半导体装置之该项检验,若不通过,才分别检验之半导体装置检验方法及系统。
申请公布号
TW129819
申请公布日期
1990.03.01
申请号
TW078103476
申请日期
1989.05.06
申请人
东京精密股份有限公司
发明人
堀江元
分类号
G01R31/02
主分类号
G01R31/02
代理机构
代理人
林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项
地址
日本
您可能感兴趣的专利
一种磁感应字轮计数器
空气弹簧
一种液态高炉渣生产矿渣棉的熔制方法
一种与鸡优良生产性状相关的鸡FABP1基因分子遗传标记及其应用
一种防静电水性上光油及其制备方法
玻璃纤维强化塑胶及其制造方法
一种电机端盖轴承室修复方法
车辆状态推定装置、车辆控制装置及车辆状态推定方法
一种应用程序保护方法及装置
一种水性预印上光油及其制备方法
一种无线路由器信号发射装置
一种校产预约系统
一种选择性化学镀的方法
高稳定性差速传动系统
半导体装置及其制造方法
幕墙连接结构的密封机构
一种樟树籽制备生物柴油的生产系统
万能支架
一种青花菜氨基酸中草药复混肥
一种用于复合材料的电磁感应加热快速成型设备