| 发明名称 |
MAGNETIC FLAW INSPECTION APPARATUS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0280948(A) |
申请公布日期 |
1990.03.22 |
| 申请号 |
JP19880232393 |
申请日期 |
1988.09.19 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
ABE KATSUO;FURUSAWA KENJI;KATAOKA HIROYUKI;FUJIMAKI SHIGEHIKO |
| 分类号 |
G01R33/12;G01N27/82;G11B5/84 |
主分类号 |
G01R33/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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