AUTOMATIC PROBER FOR IC WAFER TEST,申请号JP19880306546-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	AUTOMATIC PROBER FOR IC WAFER TEST
摘要
申请公布号	JPH02152249(A)	申请公布日期	1990.06.12
申请号	JP19880306546	申请日期	1988.12.02
申请人	MITSUBISHI ELECTRIC CORP	发明人	YAMASHITA NAOMI
分类号	G01R31/26;H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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