首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
SCANNING TWO-BEAM INTERFEROMETER
摘要
申请公布号
SU1651091(A1)
申请公布日期
1991.05.23
申请号
SU19894709059
申请日期
1989.06.26
申请人
DUBKOV VLADIMIR,SU;KARINSKIJ VYACHESLAV A,SU;KHANKOV SERGEJ,SU
发明人
DUBKOV VLADIMIR I,SU;KARINSKIJ VYACHESLAV A,SU;KHANKOV SERGEJ I,SU
分类号
G01B9/02
主分类号
G01B9/02
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
MOLDING DEVICE
HEATING AND COOLING DEVICE
DAMAGE INSPECTING METHOD FOR THERMO-MEDIUM CIRCULATING PIPELINE IN CONCEALED PART
OPTICAL DISPLACEMENT SENSOR AND OPTICAL METHOD OF MEASURING DISPLACEMENT
CLAMP CIRCUIT FOR ELECTRONIC ENDOSCOPE DEVICE
A METHOD AND APPARATUS FOR LAYING A CABLE INTO A TUBE BY MEANS OF A PRESSURIZED HYDRAULIC FLUID
SURFACE MOUNT DEVICE WITH HIGH THERMAL CONDUCTIVITY