发明名称 类比/数位转换器之检测装置
摘要 一种包含于单晶片微电脑中之A/D转换器之检测装置。此装置在微电脑执行功能测试步骤测试数位部分时,可检测A/D转换器中数位部分所有的故障。此检测装置包括一个A/D测试载入暂存器,储存一个对应于所欲测试之类比值之数位值。在A/D自我测试模式中,当一个A/D起始旗标被设定后,在A/D测试载入暂存器中之资料可经由一个控制逻辑存入一个A/D资料暂存器中。而资料储存之获得可取代一个比较器根据一个类比输入信号所做的输出。在执行功能测试步骤时,在读取该资料后,可分别测试 A/D比较器中之类比及数位部份,因之检验A/D转换器中所有的故障。
申请公布号 TW246280 申请公布日期 1995.04.21
申请号 TW083214686 申请日期 1992.05.14
申请人 金星电子股份有限公司 发明人 韩大根
分类号 G06F11/00;H03M1/00 主分类号 G06F11/00
代理机构 代理人 陈文郎 台北巿南京东路三段二四八号七楼;蔡坤财 台北巿松江路一四八号十二楼之三
主权项 1.一种包含在微电脑中的A/D转换器之检测装置,此 装置 包括:类比处理装置,它根据微电脑送来的类比输 入选择 资料选择一个类比输入信号,将参考资料转换成一 个参考 电压,以及由一个比较器比较所选择的类比输入信 号与该 参考电压;数位处理装置,它根据微电脑送来的类 比/数 位转换周期选择资料控制比较器之启动,输出产生 参考电 压之参考资料,将一个从类比处理装置输出之信号 转换成 数位资料,储存该数位资料作为结果资料,以及在 完成8 -位元资料转换后,产生一个中断信号,通知微电脑 去读 取该结果资料;以及自我测试资料载入装置,它根 据微电 脑传来之资料设定自我测试模式,储存自我测试资 料,在 自我测试模式下,选择自我测试资料以取代类比处 理装置 之输出信号,将所选择之自我测试资料载入数位处 理装置 中,以便检验A/D转换器中数位部份之故障。2.依据 申请专利范围第1项所述之包含于微电脑内之A/D 转换器之检测装置,其中该类比处理装置包括:一 个类比 输入选择器,它储存从一个内部资料滙流排接收自 微电脑 之类比输入选择资料;一个第1个多工器,它根据类 比输 人选择器之输出资料,从数个类比输入端中选择一 个输入 端;一个比较器,比较多工器所选择的类比输入信 号及参 考信号;以及一个A/D转换器,它将A/D转换参考资料 转 换成一个类比电压,然后将此作为参考电压之类比 电压输 出至比较器。3.依据申请专利范围第1项所述之包 含于微电脑内之A/D 转换器之检测装置,其中该数位处理装置包括:一 个A/D 转换周期设定器,储存从资料滙流排接收自微电脑 之A/D 转换周期资料;一个控制逻辑,它输出启动比较器 之控制 信号,产生一个时钟信号启动自我测试资料载入电 路,使 输出自我测试资料,将自我测试装置载入数位处理 装置中 之自我测试资料或由类比处理装置输出之信号,转 换成数 位资料,然后输出此数位资料作为A/D转换结果资料 ;一 个A/D转换结果资料储存单元,储存从控制逻辑依次 输出 之8个位元A/D转换结果资料,及输入与参考电压Vref 有 关之A/D转换参考资料;以及一个中断产生器,在控 制选 辑完成8-位元A/D转换资料之输出后,会产生一个中 断 信号。4.依据申请专利范围第1项所述之包含于微 电脑内之A/D 转换器之检测装置,其中该自我测试资料载入装置 包括: 一个自我测试模式设定器,从内部资料滙流排接收 自微电 脑传来之测试模式资料,然后设定自我测试模式; 一个自 我测试资料储存单元,接收从数位处理装置中控制 逻辑所 送来之时钟信号,储存自微电脑经由内部资料滙流 排传来 之自我测试资料,及输出该储存之自我测试资料; 一个起 始旗标设定器,从内部资料滙流排接收自微电脑送 来之A /D转换起始信号后,会设定一个起始旗标,以输出一 个 控制信号至数位处理电路;以及一个第2个多工器, 依据 自我测试模式设定器所设定的模式做转接,可选择 比较器 之输出信号或自我测试资料储存单元之输出资料 。第1图 是一个A/D转换器之传统检测装置之方块图;及第2 图是 依据本创作制作的一个A/D转换器之检测装置之方 块图。
地址 韩国