| 发明名称 | 用于观察样品表面的设备和方法 | ||
| 摘要 | 一种用于观察样品(1)的表面(2)的外观的设备，包括用于从预定方向照射所述表面(2)的光源(11)以及用于观察所述表面(2)的装置。用于观察所述表面(2)的装置包括相对于所述表面(2)位于不同方向的多个基本平面镜(8)。所述装置还包括用于观察所述平面镜(8)的光学系统(6，14)。每个平面镜(8)反射所述样品(1)的表面(2)的图像到所述光学系统(6，14)的图像接收部分(6)。 | ||
| 申请公布号 | CN101523195A | 申请公布日期 | 2009.09.02 |
| 申请号 | CN200780037110.3 | 申请日期 | 2007.09.28 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | S·瓦德曼 |
| 分类号 | G01N21/47(2006.01)I;A61B5/103(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/47(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;刘 红 |
| 主权项 | 1. 一种用于观察样品(1)的表面(2)的外观的设备，包括用于从预定方向照射所述表面(2)的光源(11)以及用于观察所述表面(2)的装置，其特征在于，用于观察所述表面(2)的装置包括相对于所述表面(2)位于不同方向的多个基本平面镜(8)以及用于观察所述平面镜(8)的光学系统(6，14)，由此每个平面镜(8)反射所述样品(1)的表面(2)的图像到所述光学系统(6，14)的图像接收部分(6)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||