一种超细钨丝直径的测量方法及其测量装置

摘要

本发明涉及一种超细钨丝直径的测量方法及其测量装置。本发明通过测量分段电阻进行超细钨丝直径的测量，用于该测量方法的测量装置设置有四个测试头，与四个测试头对应位置设置有四个测试头绝缘压块，四个测试头压紧器穿过底座与四个测试头绝缘压块活动连接。将超细钨丝上固定在四个测试头上，分别测试测试头之间不同长度的电阻值，代入公式AX＝R和中，计算出超细钨丝的直径D。本发明适用于Z箍缩丝阵负载上原料钨丝的直径测量，采用本发明能够消除测量电路中接触电阻对测量结果的影响，且在测试时使用标距取样能够满足长度测量的精确要求。本发明的测量方法操作方便，测量装置结构简单，成本低廉。

主权项

1. 一种超细钨丝直径的测量方法，包括以下步骤：a. 假设接触电阻恒定，接触电势恒定，在超细钨丝上设置四个测试点，四个测试点的电阻分别为R1、R2、R3、R4，四个测试点间的距离分别为：L12、L23、L34、L24、L14、L13，四个测试点间的电阻分别为：R12、R23、R34、R24、R14、R13，设1mm钨丝的电阻为r，得到方程：AX＝R其中，∵|A|≠0，∴X＝RA-1，可求出r；b. 将超细钨丝拉直置于四个测试头与四个测试头绝缘压块之间压紧；c. 分别测出电阻R14、R12、R24、R23、R34、R13的电阻值；d. 在计算机上编制五阶线性方程组计算程序，将测量结果输入计算程序，计算出e. 将r、ρ、L＝1mm代入计算出超细钨丝的直径D即可。