发明名称 自动分析装置
摘要 本发明提供一种自动分析装置。利用基于由反应过程数据得到的化学反应的理论数式的近似式,提供可在连续或者独立的检查中自动检查装置异常、试剂劣化、精度管理的指标。本发明的特征为:将自动分析装置测量反应的吸光度与时间的关系得到的反应过程数据通过最小二乘法近似于ABS=A<sub>0</sub>+A<sub>1</sub>(1-e<sup>-kt</sup>),将得到的反应开始时刻吸光度A<sub>0</sub>、最终反应吸光度A<sub>1</sub>、反应速度常数k、近似值与实际测量值的差的总和作为残差,作为反应状况的指标。
申请公布号 CN101520461A 申请公布日期 2009.09.02
申请号 CN200910008007.7 申请日期 2009.02.19
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 浜住由子;三村智宪;福山佑贵
分类号 G01N35/00(2006.01)I;G01N33/48(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I 主分类号 G01N35/00(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人 钟 晶
主权项 1. 一种自动分析装置,其特征在于,具备:存储部,存储按时序的吸光度变化;反应速度常数算出单元,基于该存储部存储的吸光度变化,使用近似式求取反应速度常数;和判定单元,基于由该反应速度常数算出单元求取的反应速度常数的值判定反应中异常的有无。
地址 日本东京都