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Zusammengefaßt betrifft die vorliegende Erfindung einen Anschlußkontakt (10) für einen IC-Testsockel, umfassend: - einen Kontaktstift (12) mit - einem Federkontaktbereich (18), der ausgelegt ist, ein Federelement (14) zu kontaktieren, - einem IC-Kontaktbereich (28), der ausgelegt ist, einen IC zu kontaktieren, und mit - einem Federbefestigungsbereich (24), wobei der Kontaktstift (12) einstückig ausgebildet ist und wobei der Anschlußkontakt weiterhin - ein Federelement (14) mit - einem Kontaktstiftbefestigungsbereich (36) umfaßt, wobei der Federbefestigungsbereich (24) und der Kontaktstiftbefestigungsbereich (36) derart miteinander verbunden sind, daß der Kontaktstift (12) und das Federelement (14) aneinander fixiert sind, sowie einen IC-Testsockel und ein Verfahren zum Herstellen.
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