适用于生产线的射频识别标签测试方法

摘要

本发明属于测试测量技术领域，具体涉及一种适用于生产线的射频识别标签测试方法。具体步骤为：将标签参数分为两类，第一类标签参数对生产工艺、精度较敏感，必须对每张标签进行测量，第二类标签参数对生产工艺、精度不敏感，通过将多张标签的测试结果进行总合的方法来获得测试的最终结果，相当于对每张标签的所有第二类标签参数都进行了测试；将标签参数按照对测试条件的敏感程度进行分类。本发明只要保证芯片和天线独立组件的可靠性，合理分类标签参数，就能保证本测试方法的测试结果相当于对所有产品测试所有测试项的测试效果，同时调整M，保证T_pT符合生产线生产速度，就能实现和射频识别标签生产同步测试。相比较于传统测试方法，本方法能够覆盖所有测试项，保证产品符合所有规范，使测试更可靠。

主权项

1、一种适用于生产线的射频识别标签测试方法，其特征在于具体步骤如下：(1)首先将标签参数分为两类第一类标签参数对生产工艺、精度较敏感，每张标签的测试结果各异，必须对每张标签进行测量；第二类标签参数对生产工艺、精度不敏感，同一批次产品有一致性，在测试时每张标签只需提供部分测试结果，通过将多张标签的测试结果进行总合的方法来获得测试的最终结果，相当于对每张标签的所有第二类标签参数都进行测试；(2)将标签参数按照对测试条件的敏感程度进行分类标签参数对第一类测试条件敏感，对于这类标签参数需要在每种测试条件下都进行测试；反之，标签参数对第二类测试条件不敏感，对于这类标签参数无需在每种测试条件下都进行测试；设共有m个标签参数，其中m1～mk为第一类标签参数，共k个，mk+1～mm为第二类标签参数共m-k个；又设每个标签参数对应的测试条件数分别N1，N2，…，Nm，根据标签参数i对测试条件的敏感程度将标签参数分为Ni1为第一类，Ni2为第二类(i∈[0，m])：假设每M个标签分为一组，则：第一类标签参数所需测试项MpT1为：MpT1＝(N11+…+Nk1)+(N12+…+Nk2)/M第二类标签参数所需测试项MpT2为：MpT2＝(N(k+1)1+…+Nm1)+(N(k+1)2+…+Nm2)/M则单个标签所需测试项MpT为：MpT＝MpT1+MpT2/M每个测试项的测试时间为Tpi，则每张标签所需测试时间TpT：TpT＝(MpT1+MpT2/M)*Tpi生产线生产一个标签速度为T，TpT≤T才能使测试与生产同步，由此可计算出标签数M。